Promotor | ||
Imię i Nazwisko | Mirosław Bramowicz | |
Stopień, tytuł naukowy | Dr hab. inż. | |
Numer ORCID | ||
Zakład/Katedra/Instytut | Katedra Technologii Materiałów i Maszyn | |
Wydział | Wydział Nauk Technicznych | |
Uniwersytet Warmińsko Mazurski w Olsztynie | ||
Tel. | 89-523-32-56 | |
Osobista strona www/ Konto w serwisie ResearchGate | ||
Dyscyplina naukowa | Inżynieria mechaniczna | |
Wskaźniki dorobku naukowego | ||
1. Liczba publikacji naukowych WoS/ Scopus | 58/74 | |
2. Liczba cytowań (WoS/Scopus) bez autocytowań | 1124/1262 | |
3. Indeks Hirscha (WoS/Scopus) | 19/21 | |
4. Liczba cytowań (Google Scholar) | 1556 | |
5. Indeks Hirscha (Google Scholar) | 23 | |
6. Liczba wypromowanych doktorów | 0 | |
7. Liczba doktorantów pod opieką | 1 | |
8. Podejmę się opieki nad doktorantem | 1 | |
a. | polskim | Kandydat powinien być absolwentem studiów technicznych, najchętniej kierunków: mechanika i budowa maszyn, inżynieria materiałowa bądź kierunku fizyka |
b. | zagranicznym | Nie |
Zainteresowania naukowe lub tematy badawcze oferowane kandydatom | ||
Proponowany temat badawczy: Korelacja między strukturą krystaliczną i przestrzennym ukształtowaniem powierzchni warstw tlenkowych konstytuowanych na stalach żaroodpornych.
| ||
Zainteresowania naukowe promotora: – dyfrakcja rentgenowska XRD (analityczne i graficzne wyznaczanie parametrów sieciowych, analiza fazowa, wyznaczanie wielkości bloków mozaiki, naprężenia 3-rodzaju) – komputerowe modelowanie struktury krystalicznej, – numeryczna analiza struktury geometrycznej powierzchni (metody fraktalne, autokorelacja powierzchniowa, stopień anizotropii) – właściwości funkcjonalne powierzchni, – mikroskopia sił atomowych, – metalografia i komputerowa analiza obrazu, – komputerowe modelowanie struktury geometrycznej powierzchni. | ||
Fundusze lub specjalny sprzęt potrzebny do realizacji projektu doktorskiego | ||
1. Czy są środki na pokrycie kosztów badań? Tak | ||
2. Czy w Laboratorium/Katedrze dostępna jest infrastruktura i odpowiednie zasoby do obsługi zaplanowanych zadań badawczych? | ||
CZĘŚCIOWO TAK Katedra Technologii Materiałów i Maszyn dysponuje urządzeniami umożliwiającymi przeprowadzenie badań w zakresie pomiarów struktury geometrycznej powierzchni (SGP) oraz oprogramowaniem analitycznym umożliwiającym analizę wyników badań SGP i XRD. Na wyposażeniu KTMiM znajdują się: – profilograf stykowy, – mikroskop sił atomowych (AFM/MFM), – mikroskopy metalograficzne. Urządzeniem niezbędnym do realizacji tematu proponowanej rozprawy jest dyfraktometr rentgenowski, którego zakup planowany jest w roku 2025. W przypadku braku zakupu dyfraktometru doktorant przeprowadzi pomiary w zewnętrznej jednostce naukowej. | ||